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U-LINK 系列使我們新電腦終端 ，可以取代所有其他！它和 P-LINK一樣小, 和S-LINK 一樣快，和 M-LINK一樣多用途。電腦終端可讀取所有探頭，用于功率和能量的測量。它可以使用USB和...

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UNO 系列就是一個簡單的功率計，具有較大的對比范圍并配有一鍵進入按鈕。它極低的功耗使它能夠在標準堿性電池上工作，也使它成為在現場工作的服務技術人員的選擇的表頭設備。當您在尋找可靠的入門級功率計時，U...

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MIRO ALTITUDE 系列特點：1、所有探頭都可讀取；2、大觸摸屏顯示；3、直觀的用戶界面；4、實時統計功能；5、多種輸出。

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針對高反射率（R99.7%）的光學樣品，德國 IPHT Jena研發了光腔衰蕩光譜法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）CRD高反射率測量儀, 它通過對指數型腔內衰...

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美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統，用于測量大面積光學材料，如用于LCD...

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QptLuxSD是一款創新性的光學表面瑕疵檢測，具備高重復性和準確性，系統根據設定的檢驗標準自動生成詳細的通過/失敗報告，與光學行業現在很多的具有很強主觀性的人工檢驗以及其他手動檢驗設備相比，提供光學...

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該系統利用PEM調制光束的偏振狀態、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態。這就導致了一個偏振狀態相對于另一個偏振狀態的光延遲測量結果是90°。利用這些數據可以對雙折射、快速軸向和理論...

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150AT 應力雙折射系統是Hinds應力雙折射測量系統家族系列產品，用于殘余應力檢測。該應力雙折射測量系統既可作為實驗室科研探索測量光學組件應力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多...

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BEAMAGE系列光束質量分析儀分析激光光束是對其功率或能量測量的一種方便補充，因為光束質量分析儀提供了非常有用的附加信息，如空間能量或強度分布、光束寬度、質心、橢圓度和方向，可以幫助您確定您的激光系...

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